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正畸文献阅读--上颌支抗初次植入失败后二次植入稳定性的研究


正畸文献阅读--上颌支抗初次植入失败后二次植入稳定性的研究


【摘要】

介绍:该研究了评估了上颌微种植支抗初次和二次植入的成功率,并比较了上颌颊侧区(MB)和腭中缝区(MP)的稳定性。

方法:共有387个微种植支抗初次植入上颌颊侧区(第二前磨牙和第一磨牙之间);其中,81(20.9%)个微种植钉不稳定,随后被重新植入到上颌颊侧区(相同位置或更远的位置)或腭中缝区。此外,84个微种植钉初次植入腭中缝区 其中13(15.5%)个不稳定,随后重新植入到腭中缝区。我们计算并比较了两个部位初次及二次植入的成功率。此外,我们还探究了影响种植钉成功率的因素。


结果:在上颌颊侧,二次植入的成功率明显低于初次植入,但植入腭中缝区的微种植钉在初次或二次植入相对都比较稳定。种植钉植入上颌颊侧区的深度与其稳定性有显著的关系。


结论:对于二次植入种植钉,在腭中缝处植入较上颌颊侧更为稳定。

 

上颌支抗多植入于上颌磨牙颊侧区MB(第二前磨牙和第一磨牙之间),以及腭中缝区MP,以实现防止磨牙近中移动和远移磨牙的目的。然而有一些研究报道了在上颌腭中缝区植入种植钉较上颌颊侧更为稳定,因为腭中缝区有高质量的骨骼条件,包括高骨密度和厚骨皮质,同时没有大神经血管,因此腭中缝区是微种植支抗较为理想的植入部位。然而在使用微种植钉的过程中常发生种植钉不稳定的情况,影响了临床疗效的实现。因此我们需要了解微种植钉的失败率,植入部位是否合适,导致支抗钉松动的影响因素等。


该回顾性研究目的在于探究上颌种植钉初次及二次植入的成功率,比较上颌颊侧区及腭中缝区微种植钉的稳定性,探究导致松动的危险因素。

 

材料和方法

研究纳入了238位患者,62位男性,176位女性,平均年龄27.9±8.4岁,2012年7月至2016年1月我院就诊的病人。共471枚种植钉,387枚植入上颌颊侧,84枚植入腭中缝区。

种植钉有不同的型号,上颌颊侧选择直径为1.4mm或1.6mm的,腭中缝区选择1.6mm或2.0mm的,长度为6mm或8mm。术前用CBCT评估植入位置解剖特征,如牙根之间的距离,皮质骨厚度,上颌窦窦底。上颌颊侧区牙根间距离足够,可植入最小型号的支抗钉(1.4*6.0mm),若牙根间距离不足,则选择在腭中缝区植入两个种植钉(在上颌第二前磨牙和第二磨牙之间),选择横腭杆或舌弓装置来增强支抗(见图1)。


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支抗钉松动即会被移除,随后一个新的种植钉植入相同或另一个位置。上颌颊侧区初次植入失败后,有3种选择方案:1)1-2个月后在相同位置植入,植入的近远中位置,高度,植入角度与第一次植入不同;2)第一第二磨牙之间植入;3)植入腭中缝区。腭中缝区种植钉松动后,改变近远中向位置,移除当时或1-2个月后植入新的种植钉。

 

结果:

植入后观察期为1年,初次植入的成功率为,上颌颊侧区79.1%,腭中缝区84.5%。上颌颊侧区和腭中缝区初次植入成功率无显著差异。(见图2)


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在上颌颊侧区,初次植入的病例中,我们发现种植钉的长度与成功率显著相关。8mm的种植钉的成功率为85.6%,而6mm的种植钉成功率为72.5%,二者有显著差异。同时,性别,年龄,支抗钉直径与上颌颊侧区的成功率无显著相关。(见表1)


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腭中缝区初次植入率与性别,年龄,种植钉长度,直径均无显著关联。(见表2)


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上颌颊侧区的初次及二次植入的成功率相比,二次成功率(58.1%)显著降低。(见图3)


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上颌颊侧区初次植入失败后可在相同位置,改变近远中向,植入角度等植入,或在第一第二磨牙之间植入,或在腭中缝区植入。三种植入方法的二次植入成功率相比,在腭中缝区植入成功率为88.9%,显著高于另外两种方法。(见图4)


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腭中缝区初次及二次植入的成功率,无显著差异。(见图5)


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上颌颊侧区二次植入的病例中,使用8mm种植钉的成功率为71.4%,显著高于6mm种植钉(40.7%)。其余影响因素未见显著相关性。(见表3)


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在腭中缝区二次植入的病例中,性别,年龄,种植钉长度,直径,植入间隔时间均为见显著相关性。


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结论:

1. 上颌颊侧区,二次植入成功率显著低于初次植入的成功率。

2. 当上颌颊侧区初次植入失败后,在腭中缝区二次植入的成功率高于在上颌颊侧二次植入。

3. 腭中缝区初次及二次植入的成功率都非常高。

4. 上颌颊侧区,8mm的种植钉较6mm的种植钉更为稳定。

5. 在上颌颊侧区二次植入种植钉易松动,因此二次植入支抗钉首选腭中缝区




来源:佳琦 浙一口腔正畸林军